Auf­takt im Rat­haus mit Bür­ger­meis­ter Paus - Füh­ren­de Ver­tre­ter aus In­dus­trie und For­schung tref­fen sich im Heinz Nix­dorf Mu­se­ums­fo­rum

Das führende europ?ische Forum im Bereich der mikroelektronischen Schaltungen und System ?IEEE European Test Symposium“ (ETS) fand in diesem Jahr unter der Leitung von Prof. Dr. Sybille Hellebrand in Paderborn statt. Die Universit?t Paderborn ist gemeinsam mit dem amerikanischen Ingenieursverband IEEE der Hauptveranstalter der Tagung. Die rund 200 Teilnehmer aus 27 L?ndern erwartete auch in diesem Jahr wieder ein attraktives Programm. Neben wissenschaftlichen Vortr?gen, die einen strengen Begutachtungsprozess bestehen mussten und von IEEE ver?ffentlicht werden, sind Tutorials zu aktuellen Themen, Diskussionsforen, 365体育_足球比分网¥投注直播官网s sowie hochkar?tige Vortr?ge veranstaltet worden.

Zum Auftakt der Tagung waren die Teilnehmer am ersten Abend zu einem Empfang von Bürgermeisters Heinz Paus im Rathaus eingeladen. In einer Pr?sentation stellte er dem internationalen Publikum die Stadt an der Pader vor. Von der grünen Stadt mit ihren Parks und dem historischen Stadtkern bis hin zu ihrer Rolle als Kultur- und Sportstadt sowie Technologiestandort skizzierte er ein umfangreiches Portrait. Ein Gedankenaustausch fand im Anschluss bei einem gemeinsamen Imbiss statt.

Immer kleinere Mikrochips k?nnen heute immer komplexere Aufgaben übernehmen. Die Anwendungen reichen von Hochleistungsrechnern, über Steuereinheiten in Autos oder in der Medizintechnik bis hin zu mobilen Ger?ten wie Smartphones oder Tablet-PCs. Um die erforderliche Qualit?t und Sicherheit zu garantieren, müssen defekte Chips nach der Produktion m?glichst schnell und mit hoher Treffsicherheit aussortiert werden k?nnen. Herauszufinden ob einer von Millionen Transistoren in einem Chip nicht korrekt funktioniert, ist fast so wie eine Nadel im Heuhaufen zu finden. Der Test mikroelektronischer Schaltungen und System ist deshalb eine gro?e Herausforderung für Industrie und Wissenschaft. Das IEEE European Test Symposium (ETS) ist das führende europ?ische Forum in diesem Bereich. Internationale Experten aus Forschung und Industrie treffen sich j?hrlich an wechselnden Tagungsorten, um wissenschaftliche Ergebnisse sowie neue Herausforderungen und Trends zu diskutieren.


Text: Daniel H?ing, Stadt Paderborn

Foto (Stadt Paderborn, Daniel H?ing): Bürgermeister Heinz Paus und Prof. Dr. Sybille Hellebrand, Leiterin des diesj?hrigen IEEE European Test Symposium, im Gespr?ch mit den Tagungsteilnehmern des diesj?hrigen ?IEEE European Test Symposium" im gro?
Foto (Stadt Paderborn, Daniel H?ing): Bürgermeister Heinz Paus und Prof. Dr. Sybille Hellebrand, Leiterin des diesj?hrigen IEEE European Test Symposium, im Gespr?ch mit den Tagungsteilnehmern des diesj?hrigen ?IEEE European Test Symposium" im gro?en Rathaussaal.